WXJD-F 低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
產(chǎn)品分類: 變壓器測(cè)試儀
WXJD-F系列低頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的工作頻率范圍是20Hz~5MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε )和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ )變化的測(cè)試。該設(shè)備的測(cè)試裝置是由平板電容器組成, 平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品, 配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。
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立即咨詢WXJD-F系列低頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀由S916測(cè)試裝置(夾具)、WXJD-F型介電常數(shù)測(cè)試主機(jī)、組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的最佳解決方案。
WXJD-F系列低頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的工作頻率范圍是20Hz~5MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε )和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ )變化的測(cè)試。該設(shè)備的測(cè)試裝置是由平板電容器組成, 平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品, 配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。 絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值) 讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。
一、概述
WXJD-F是具有多種功能和更高測(cè)試頻率的新型阻抗分析儀,體積小,緊湊便攜,便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%, 測(cè)試頻率最高5MHz及10mHz的分辨率, 4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面, 操作方便簡(jiǎn)潔.集成了變壓器測(cè)試功能,平衡測(cè)試功能,提高了測(cè)試效率. 儀器提供了豐富的接口,能滿足自動(dòng)分選測(cè)試, 數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求.
二、主要測(cè)試材料
絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹(shù)脂材料,塑料材料,F(xiàn)R4 PCB板材,PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等。高頻介質(zhì)樣品(選購(gòu)件): 在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中, 檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。 該樣品由石英玻璃, 聚四氟乙烯等材料做成Φ 38mm, 厚 1~2mm 測(cè)試樣品。 用戶可按需訂購(gòu),以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性
三、性能特點(diǎn)
1. 全自動(dòng)一鍵操作可自動(dòng)掃描最平穩(wěn)的量程階段
2. 微電腦處理器反應(yīng)迅速可在最短時(shí)間內(nèi)計(jì)算出最佳頻段
3. 夾具數(shù)字顯示
4. 4.3寸TFT液晶顯示
5. 中英文可選操作界面
6. 最高2MHz的測(cè)試頻率,10mHz分辨率
7. 平衡測(cè)試功能
8. 變壓器參數(shù)測(cè)試功能
9. 最高測(cè)試速度:13ms/次
10. 電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能
11. V、I測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
12. 內(nèi)部自帶直流偏置源
13. 可外接大電流直流偏置源
14. 10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能
15. 30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻◎內(nèi)建比較器,10檔分選和計(jì)數(shù)功能
16. 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤(pán)文件保存
17. 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤(pán)
18. RS232C、USB、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
19. 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復(fù)性
20. 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1~105
四、主要技術(shù)指標(biāo)
WXJD-F主機(jī)參數(shù) | |
ε 和D性能 | |
固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz~1MHz/20Hz~2MHz/20Hz~5MHz的ε 和D變化的測(cè)試 | |
ε 和D測(cè)量范圍 | ε : 1~105 D: 0.1~0.00005 |
ε 和D測(cè)量精度(10kHz) | ε : ±2% , D: ±5%±0.0001 |
測(cè)試參數(shù) : | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ ,DCR |
測(cè)試頻率 | 20Hz~5MHz,10mHz步進(jìn) |
測(cè)試信號(hào)電平 | f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV) f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV) |
輸出阻抗 | 10Ω , 30Ω , 50Ω , 100Ω |
基本準(zhǔn)確度 | 0.1% |
顯示范圍 | L 0.0001 uH~9.9999kH θ :-179.99°~179.99° |
測(cè)量速度 | 快速: 200次/s(f﹥30kHz),100次/s(f﹥1kHz)中速: 25次/s, 慢速: 5次/s |
校準(zhǔn)功能 | 開(kāi)路/短路點(diǎn)頻、 掃頻清零, 負(fù)載校準(zhǔn) |
等效方式 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 |
量程方式 | 自動(dòng), 保持 |
顯示方式 | 直讀, Δ , Δ % |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線 |
內(nèi)部直流偏 | 電壓模式-5V~+5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn) |
置源 | 電流模式(內(nèi)阻為50Ω )-100mA~+100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn) |
比較器功能 | 10檔分選及計(jì)數(shù)功能 |
顯示器 | 4.3寸LCD顯示 |
存儲(chǔ)器 | 可保存20組儀器設(shè)定值 |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(選件) |
工作頻率范圍 | 20Hz~2MHz 數(shù)字合成 |
精度 | ±0.02% |
電容測(cè)量范圍 | 0.00001pF~9.99999F 六位數(shù)顯 |
電容測(cè)量基本誤差 | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.00001~9.99999 六位數(shù)顯 |
介電常數(shù)測(cè)試裝置(含保護(hù)電極) | 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極,能對(duì)直徑φ 6~50mm,厚度<14mm的試樣精確測(cè)量 |
測(cè)試方法 | 可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測(cè)試 |
微分頭分辨率 | 10μm |
最高耐壓 | ±42Vp(AC+DC) |
電纜長(zhǎng)度設(shè)置 | 1m |
最高使用頻率 | 5MHz |
S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置 | |
固體 | 材料測(cè)量直徑Φ38mm;厚度可調(diào) ≥ 15mm |
液體 | 測(cè)量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm(選配) |
















